Relever les défis DFT (Design For Test) au niveau composant, carte et système : c'est le thème d'un séminaire gratuit organisé jeudi 6 mars au Novotel de Sophia Antipolis par la société JTAG Technologies. Il s'agit d'un séminaire "Boundary Scan" montrant comment une stratégie Boundary-Scan DFT (Design For Test) permet d'optimiser la couverture de vos tests et la résolution de vos diagnostics face à la complexité des cartes et architectures système à signaux numériques ou mixtes. Seront présentés aussi à cette occasion les outils d'analyse de testabilité, développement de test et programmation Provision de JTAG Technologies
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